費(fèi)舍爾涂層測(cè)厚儀Dualscope FMP20代理
膜厚儀又名膜厚測(cè)試儀，分為手持式和臺(tái)式二種，手持式又有磁感應(yīng)鍍層測(cè)厚儀，電渦流鍍層測(cè)厚儀，熒光X射線儀鍍層測(cè)厚儀。手持式的磁感應(yīng)原理是，應(yīng)用從測(cè)頭經(jīng)過非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小，來測(cè)定覆層厚度。也可以測(cè)定與之對(duì)應(yīng)的磁阻的大小，來表示其覆層厚度。

德國費(fèi)希爾膜厚儀是德國制造，中國市場(chǎng)上應(yīng)用較為普遍的一個(gè)品牌，由于其精度高，質(zhì)量高，丈量穩(wěn)定，普遍應(yīng)用于實(shí)驗(yàn)室和汽車航天制造工業(yè)中。

費(fèi)希爾膜厚測(cè)試儀DualScope FMP20主要特性引見

費(fèi)舍爾涂層測(cè)厚儀Dualscope FMP20代理主要特性：

● 根據(jù)磁感應(yīng)法和/或電渦流法對(duì)涂層中止非破壞性丈量LI>

● 自動(dòng)識(shí)別基材（FMP40）

● 可存儲(chǔ)高達(dá)20,000個(gè)數(shù)據(jù)

● 可樹立多達(dá)100個(gè)應(yīng)用程式

● 數(shù)據(jù)多可分為 4000個(gè)數(shù)據(jù)組

● 以帶有高斯曲線的直方圖圖形化地表現(xiàn)丈量結(jié)果

● 可以輸入過程公差極限并計(jì)算相應(yīng)的工藝才干指數(shù)Cp和Cpk

● 當(dāng)超出公差極*，有聲音和視覺正告信號(hào)

FMP20 涂鍍層測(cè)厚儀應(yīng)用程式存儲(chǔ)
• 能夠貯存一個(gè)應(yīng)用程式，包括校準(zhǔn)信息。
FMP20 涂鍍層測(cè)厚儀統(tǒng)計(jì)和計(jì)算
• 顯現(xiàn)統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)，例如：均勻值、規(guī)范偏向、最大和最小值、讀數(shù)范圍。
FMP20 涂鍍層測(cè)厚儀丈量方式
• 單次丈量
• 用“連續(xù)丈量"形式丈量能夠?qū)悠吠獗硗Ｖ惯B續(xù)掃描。

上圖是DUALSCOPE® FMP20 + FTD3.3探頭由于采用了曲率補(bǔ)償技術(shù)，F(xiàn)TD3.3探頭因而十分適用于丈量曲面非鐵磁工件上的涂料、油漆、陽極氧化和塑料層的厚度。FTD3.3探頭丈量范圍：0 - 800 μm，F(xiàn)TD3.3探頭訂貨號(hào)：604-189。

FD10探頭采用磁感應(yīng)法和渦流法的雙模設(shè)計(jì)。能夠自動(dòng)切換到相應(yīng)的丈量原理上來工作。NF/Fe 0-1300 μm，Iso/NF 0-800 μm，F(xiàn)D10探頭訂貨號(hào)：604-143